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专利详细信息

专利名称： 基于独居石裂变径迹的测年方法
专利类别： 发明专利
申请号： CN202310870763.0
专利号：
申请日期： 2023-07-17
第一发明人： 王宇飞；岳雅慧；李伟星
专利授权日期：
专利证书号：
专利摘要：

 
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